精密儀器使用期間核查方法和結(jié)果判斷

常用的期間核查方法包括：

1）使用高一等級(jí)的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)。期間核查不是再校準(zhǔn)，但條件允許的情況下可以借鑒校準(zhǔn)的方法。如多功能校準(zhǔn)源可以用于漏電流測(cè)量?jī)x、數(shù)字多用表等的核查。

2）使用儀器附帶的校準(zhǔn)設(shè)備。部分測(cè)量設(shè)備具備自校準(zhǔn)功能，如電子天平的自帶標(biāo)準(zhǔn)工作砝碼等，可以用來(lái)進(jìn)行核查。

3）測(cè)量設(shè)備之間的比對(duì)。有條件的實(shí)驗(yàn)室可以對(duì)同一參數(shù)采用不同設(shè)備測(cè)量進(jìn)行比對(duì)，比對(duì)的方法包括多臺(tái)比對(duì)法、兩臺(tái)比對(duì)法。

4）使用不同測(cè)試方法進(jìn)行比對(duì)。如測(cè)量接地導(dǎo)體電阻可采用直接測(cè)量法，也可采用定義進(jìn)行比對(duì)。

5）對(duì)保留樣品的量值重新測(cè)量。只要保留的樣品性能穩(wěn)定，即可用來(lái)作為期間核查的核查標(biāo)準(zhǔn)。具體操作時(shí)可參考檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)、檢定規(guī)程等技術(shù)規(guī)范中有關(guān)的測(cè)試要求和方法，以及設(shè)備使用說(shuō)明書(shū)、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)或供應(yīng)商提供的方法。

核查頻次
期間核查的實(shí)施頻次應(yīng)綜合考慮檢測(cè)儀器的特點(diǎn)，以及核查過(guò)程的難易、費(fèi)時(shí)程度。一般在兩次校準(zhǔn)之間至少應(yīng)安排一次核查，對(duì)使用較頻繁或帶到現(xiàn)場(chǎng)使用次數(shù)較多的設(shè)備可適當(dāng)提高核查頻次，性能不大穩(wěn)定的或核查結(jié)果分析發(fā)現(xiàn)性能變差的設(shè)備應(yīng)提高核查頻次，開(kāi)展重點(diǎn)項(xiàng)目檢測(cè)前或?qū)z測(cè)結(jié)果有疑義時(shí)亦可臨時(shí)進(jìn)行核查。